在数字电路应用中，无源晶振两个比较重要的故障现象如下：

1、晶振不起振。

2、晶振时振时不振，电路出现不上电现象，系统无法正常运行，即我们常说的程序跑不起来。

针对不良电路板进行分析，如借助示波器或频率计上电检测，晶振无法测得频率，因此可以确认晶振不起振。

分析：

从技术上来讲，单片机的功率决定了晶振的功率而电容的大小又参考于单片机功率。因此选择合适负载晶振及同时选择与晶振负载比较匹配的外接电容才是关键。这里请注意P1于电容的匹配符合于p1=c1*c2/c1+c2+p2（这里的 P2是一般是3~5p的一个值）。选择的电容的值越大单片机的功耗就越大，易造成晶振不起振现象发生。

建议：

• 晶振两端在工作的动态阻抗问题，此阻抗有一定的范围，因而在设计时会并联一个1MΩ的电阻来稳定动态阻抗。

• 谐振电容（外接电容）的匹配。

晶振的匹配电容的主要作用是匹配晶振和振荡电路，使电路易于起振并处于合理的激励状态下，对频率也有一定的“微调”作用。对单片机来说，正确选择晶振的匹配电容，关键是微调晶振的激励状态，避免过激励或欠激励。过激励会导致晶振容易老化，影响使用寿命并导致振荡电路EMC特性变劣，而欠激励则容易增加晶振起振难度，延长晶振起振时间，严重时甚至造成晶振不振。