晶振频率及/或电阻跳变引发开机不良原因分析

针对晶振不良品(5pcs)温测(-40℃~125℃),数据显示在指标内不同低温段及高温段,晶振出现频率跳变及/或电阻跳变现象:

晶振频率及/或电阻跳变引发开机不良原因分析

针对晶振不良品开盖观测,发现石英晶片表面附着异物,如下图所示:

晶振频率及/或电阻跳变引发开机不良原因分析

 

石英晶片表面附着异物放大图:

晶振频率及/或电阻跳变引发开机不良原因分析

关于晶振电阻跳变问题,分析如下:

引发晶振频率跳变及/或电阻跳变原因为晶振在制程中,存在污染问题,推测为净化厂房不达标或制程管控失效所致。

电阻不良之隐患:

如晶振出现上述故障或不良,可归因为晶振本身制程不良。该类不合格晶振难于剔除(不良现象会出现在高温区及/或低温区,通过温测剔除的难度较大)。设备在不同低温或高温环境下工作,晶振可能出现停振或跳频问题,造成设备死机或系统紊乱。

建议:

更换所有晶振,彻底根除隐患。

拥有从日本、美国、德国引进的先进生产检测设备300多台,技术与管理人员近百名,生产制造严格执行全程在超净化高标准环境下进行并完成,并已分别通过ISO9001、ISO14001、TS16949等相关体系认证,所生产的晶振产品品质严格符合国际IEC和美国ANSI标准。

电话:0755-23068369