一种常用的测试裕量方法介绍:负性阻抗测试

一种常用的测试裕量方法介绍:负性阻抗测试

(负性阻抗测试)

在晶振电路中的同等条件下,增大电容负载,会降低裕量;提高反向放大器的跨导,会增大裕量;晶振内阻越大,裕量越小。反之亦然。

在真实的大规模生产中,最常用的测试裕量的方法是负阻测试,具体操作步骤如下:

在晶振支路上串联一个电阻,这个阻值的大小一般为3到5倍的晶振内阻(如果是医疗或汽车级别的应用,这个阻值应为5到10倍的晶振内阻),当加入这个负载电阻后,如果整个晶振电路还是可以正常起振,我们就基本上可以判定这个晶振拓扑是稳定的。要注意这个负载电阻仅仅是用于裕量测试,不可以存在于正式生产时的电路板上。

当系统通过了负性阻抗测试,但发现晶振的振幅很小,会有影响吗?

一种常用的测试裕量方法介绍:负性阻抗测试

振幅小没关系,晶振电路内部都有放大器,会保证晶振电路的可靠稳定工作。如果信号经由放大后,幅值还是小,就要考虑负载的问题了。而如果在晶振管脚上看到了饱和现象,这时候就需要进行调整。

晶振电路内部是一个反相器,反相器工作在放大区,同时放大器的内部还并联一个电阻,这个电阻构成了反馈电路,同时也是用来调整晶振的工作点。一般情况下,用户不需要在外部电路再加入OSC1和OSC2的并联电阻,但还是可以在需要的情况下,通过在外部并联电阻(一般来说阻值为M级)来对放大器的工作点进行微调。另外一个方法是,在晶振的放大器输出管脚上串一个电阻。这个电阻一般有两个作用,一个作用是用来做选频,另一个作用是限制晶振驱动电路的输出电流,保证晶振工作在一个稳定的频点上,不会因为电流过驱而把晶振烧坏。

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