当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 插件晶振密封玻璃珠破裂漏气导致频率错误 作者: 时间:2024年08月21日 浏览量:636 (81.360MHz插件有源晶振PXO-DIP14密封玻璃珠破裂漏气,导致频率错误。) 不良品晶振实测数据: #1:81.353490MHz -80ppm #2:81.356310MHz -45ppm 合格品晶振精度要求: ±30ppm 分析原因: 物理应力导致玻璃珠破裂,晶振漏气。晶振气密性遭到破坏后,进入到晶振内部空气中的氧气与石英晶片镀银层的银发生氧化反应,导致频率下降。 建议与措施: 避免对晶振引脚的拉扯动作,如来自剪腿的机械应力等。 标签:81.360MHz晶振, 晶振气密性, 晶振漏气, 晶振玻璃纤维珠的作用, 晶振输出频率, 玻璃珠glass, 石英晶片镀银工艺 上一篇: 芯片内部已有RTC时钟为什么还要外挂32.768KHz晶振? 下一篇: 四脚无源贴片晶振焊盘图解:XTAL,NC 还是 GND? 推荐产品 M49SMD OSC2016 VCXO3225