关于晶振首年老化率Aging (1st year) ±3ppm和±5ppm，解释如下：

晶振老化率

晶振的频率老化指的是在恒定环境条件下测量晶振频率时，晶振频率和时间之间的关系。这种长期频率漂移是由晶体元件和晶振电路元件的缓慢变化而造成，因此，其频率偏移的速率叫老化率，即在规定时限下的频率最大变化率。

晶振的老化率虽然不是主要的参数，但也是非常重要的一项指标。晶振常规的老化率一般是首年±3ppm和±5ppm，后续趋于稳定，通常为±1ppm。“晶振年老化率”这个参数在晶振规格书中可以找到。举例：生产的无源贴片晶振SMD1612年老化率，如下图所示：

影响晶振老化率的主要原因

在晶振生产时，微量污染物和残留气体的分子会沉积在晶片上或使晶体电极氧化，晶振振荡频率越高，石英晶片就越薄，这种影响程度就会越大。

低频率晶振比高频率晶振、工作时间长的晶振比工作时间短的晶振、连续工作的晶振比断续工作的晶振频率变化率更小。

请按照要求存储晶振产品，确保仓储温度及湿度达标。避免雨淋及太阳直射。

晶振在电流过驱情况下，会加速老化，稳定性下降且使用寿命缩短。

降低晶振老化率的措施

晶振老化主要是由于在其生产时存在应力、污染物、残留气体、结构工艺缺陷等问题所造成，因此生产车间洁净度达标是第一硬性指标。

在晶振生产过程中，应尽量减少电极在空气里的暴露时间，防止石英晶片再度受到污染。

在使用晶振时，不要超出晶振电气规格允许的极限值，否则可能会加速晶振老化或直接对其造成破坏。

在特殊环境中使用晶振，尤其是激励功率（无源晶振方案）的大小也会影响晶振老化，激励功率大，则老化加大。针对有源晶振方案，请严格按照规格书要求请提供额定电压。